Сайт группы 642701 (КИС)Воскресенье, 20.10.2019, 01:04

Приветствую Вас Гость | RSS
Главная | Регистрация | Вход
Меню сайта

Главная » 2008 » Май » 7 » Метрология-2008
Метрология-2008
00:19

С 3 по 5 июня 2008 года на территории Всероссийского выставочного центра пройдет Международная выставка средств измерений, испытательного и лабораторного оборудования «Метрология-2008».

Федеральное агентство по техническому регулированию и метрологии и Государственная корпорация «Российская корпорация нанотехнологий» выступили с инициативой организации на выставке специализированного раздела, отражающего современное состояние измерений и испытаний наноматериалов и созданной на основе наноматериалов продукции, перспективы создания системы оценки и подтверждения соответствия и обеспечения безопасности использования нанотехнологий и продукции наноиндустрии, а также пути развития стандартизации и нормативного обеспечения в сфере нанотехнологий и наноматериалов.

Приглашаются все заинтересованные организации и предприятия представить разработки, обеспечивающие решение проблем измерений и подтверждения соответствия продукции наноиндустрии, в разделе нанотехнологий на выставке «Метрология-2008», которые могут стать для его участников основой долгосрочного сотрудничества и будут способствовать успешному развитию работ в этом перспективном направлении науки и техники.

Информацию об условиях можно получить по телефону:               (495) 937-40-23       , по электронной почте: metrol@expoprom.ru и на сайте: metrol.expoprom.ru.

Просмотров: 505 | Добавил: Dak | Рейтинг: 0.0/0 |
Всего комментариев: 1
1 Jusypusi  
^_^

Имя *:
Email *:
Код *:
Форма входа

Календарь новостей
«  Май 2008  »
ПнВтСрЧтПтСбВс
   1234
567891011
12131415161718
19202122232425
262728293031

Поиск

Друзья сайта

Статистика


Copyright MyCorp © 2019
Используются технологии uCoz